X-Y函數(shù)記錄   實驗數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)   型號：XRS-WI-XP

實驗數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng)，可以模擬 X-Y函數(shù)記錄、自動走紙記錄、溫度記錄、波形輸出、電壓顯示 等，是一種基于微機的信號測量記錄系統(tǒng)，它可替代常規(guī)的記錄儀（例如普通X-Y記錄儀）進行數(shù)據(jù)記錄和曲線描繪，而且具有操作容易、測量成本低、數(shù)據(jù)交換便捷等特點。特別是，利用本系統(tǒng)記錄的測量數(shù)據(jù)，能直接被“Origin”等數(shù)據(jù)處理軟件所識別，因此，在實驗數(shù)據(jù)的管理、處理和分析等方面。該系列記錄儀具有顯著的優(yōu)點。可作為 物理、化學、生物、地質(zhì)、氣象、海洋 等領(lǐng)域的實驗、研究工具。
該系列記錄系統(tǒng)，與普通的數(shù)據(jù)采集卡有著本質(zhì)的區(qū)別，采用 外置式 抗干擾，含有獨立 CPU 等創(chuàng)新結(jié)構(gòu)，采用高速接口與計算機連接，具有多種型號規(guī)格。幾乎任何型號的微機，配上本系統(tǒng)，就可構(gòu)成一部功能完備的電腦化數(shù)據(jù)記錄儀”。
目前，北京、江蘇、上海、湖南、湖北、天津、河北、河南、黑龍江、吉林、遼寧、福建、安徽、山東、山西、陜西、廣東、四川 等省幾十余所高校正在使用本儀器，開展教學和科研等方面的工作。

成功案例
可用于 “夫蘭克-赫茲實驗、光電效應實驗、半導體C-V測量、磁滯回線測量、氣體放電等離子體實驗研究，半導體DLTS、電化學實驗、物化實驗” 等實驗和研究。（左圖為程序界面，及記錄到的“夫蘭克-赫茲”實驗曲線）

電腦化_實驗數(shù)據(jù)記錄系統(tǒng) (外置通用型系列)